半導体デバイス用の 2 つの新しいテスト システム

炭化ケイ素 (SiC) や窒化ガリウム (GaN) などの新しい半導体デバイスをテストするには、構築や校正に時間がかかる複雑なセットアップが必要になることがよくあります。エンジニアや研究者は、信頼性の高い製品を設計するためにテストを行う際に正確な結果を必要とします。

Microtest Group は、Quasar200 と Pulsar600 という 2 つの新しいテスト システムを発売します。これらのテスト ツールは、プラグ アンド プレイによる複雑なセットアップの問題を解決します。これにより、ユーザーはカスタム テスト装置を構築したり、複雑な配線をしたりすることなく、パワー半導体デバイスのテストを開始できます。これにより、研究室やエンジニアは信頼性が高く再現性のあるデータを収集しながら時間を節約できます。

Quasar200 は、シリコン (Si)、窒化ガリウム (GaN)、および炭化ケイ素 (SiC) で作られた標準およびミッドレンジのパワー半導体デバイスをテストするために設計されています。正確な DC および AC 測定に重点を置いているため、実験室での研究、デバイスの特性評価、データシートの開発に適しています。

Pulsar600 は、特に SiC ベースのインバータや自動車システム向けの大電流および高電力テスト用に構築されています。最大 1,000 A DC および 10,000 A 以上の AC の短絡およびストレス テストをサポートしており、エンジニアが電気自動車や産業用アプリケーションで使用される次世代パワー モジュールの性能と安全性を検証するのに役立ちます。

このシステムは、高電流および高電圧下で半導体デバイスがどのように動作するかを測定します。Quasar200 は、エレクトロニクスおよび電力システムで使用されるシリコン、GaN、および SiC デバイスをテストするために構築されています。低干渉で高速かつ正確な DC および AC 測定を実行します。Pulsar600 は、この機能を自動車やインバータのテストなどの非常に大電流のアプリケーションに拡張し、最大 1,000 アンペアの DC と 10,000 アンペアを超える AC を処理します。

どちらのシステムも、データの正確性を追跡するために詳細な監査ログを保持します。これにより、研究者や企業は、データシートを開発したり新しいデバイスを評価したりする際に、ラボの結果を工場レベルの製造テストと照合することができます。

安全性は両方のシステムに組み込まれています。これらには、密閉されたテストエリアと、機器が開いているときや障害が発生したときに電源を遮断する ipTEST の SocketSafe 保護機能が含まれます。低インダクタンスのソケットは電気ノイズを低減し、テストの安定性を向上させます。


主な特徴

プラグアンドプレイのセットアップ: カスタム構築のリグやはんだ付け接続の必要性を排除した、すぐに使用できるテスト システム。
幅広いデバイスのサポート: シリコン (Si)、窒化ガリウム (GaN)、および炭化ケイ素 (SiC) デバイスと互換性があります。
高電流機能: 最大 1,000 A DC および 10,000 A+ AC の超大電流テストをサポートし、SiC インバーターや車載システムに適しています。
測定精度: すべての電圧および電流波形にわたって ±0.1% の精度。