堅牢なマルチ TAP テスト コントローラー

新しいマルチ TAP テスト コントローラがエレクトロニクス テストの世界に参入し、プロトタイピングと生産の両方でより高速な JTAG バウンダリ スキャン パフォーマンスと信頼性の高い機能テストを必要とするエンジニアを対象としています。このデバイスは、セットアップ時間を短縮し、信号の整合性を高め、実際の処理に耐えられるように設計された 2 ポート、4 TAP 構成を導入しており、複雑なボードを拡張する開発チームにとって多用途のアップグレードとして位置付けられています。


主な機能は次のとおりです。

フォールト トレラント テストのためのすべてのピンにわたる ±30 V 電気保護
20 個の GPIO ピンにマッピングされた 4 つの構成可能な JTAG TAP
最大 166 MHz のバウンダリ スキャン速度による高性能テスト サイクル
追加のグランドパスと直列終端により信号の完全性が強化
柔軟な取り付けおよびライセンスのオプションを備えた堅牢な産業対応ビルド
その最優先事項は保護です。すべてのピンは±30 V に保護されており、偶発的な短絡やコネクタの誤配線によるツールやボードの損傷のリスクが軽減されます。これは、ハードウェアの初期立ち上げ時に日常的に懸念されることです。この堅牢化は機械設計にまで及び、工業グレードの製造品質と、工場の現場、サービス環境、フィールド診断用の複数の取り付けオプションが備わっています。

信号品質ももう 1 つの焦点です。20 本の専用グランド ピンと統合された直列終端により、騒々しいラボ セットアップや高 EMI 生産ラックでもクリーンな波形を維持することができます。このコントローラーは最大 166 MHz のバウンダリ スキャン速度に達することができるため、タイミング マージンが厳しく、テスト データへの高速アクセスが不可欠な最新の高密度ボードに適しています。

完全に構成可能なピン配置により柔軟性が実現します。エンジニアは、最大 4 つの JTAG TAP または汎用 I/O を 20 個の利用可能なピンに割り当てることができ、カスタム アダプタを使用せずに接続を合理化できます。これは、JTAG バウンダリ スキャン手順と GPIO から駆動される機能テストを組み合わせた混合モード テストもサポートします。

このコントローラーは、確立されたテストおよびプログラミング環境とシームレスに統合され、多くの開発および製造セットアップですでに使用されている分析、実行、デバッグ、およびフラッシュ プログラミング ツールチェーンと連携します。書き直しや再認定を必要とせずに既存のワークフローに組み込まれるため、レガシー プロジェクトを持つチームの導入が容易になります。新しいコントローラは、マルチ TAP 機能、より高速なスキャン速度、堅牢な電気保護、および柔軟なライセンスを組み合わせることにより、初品検査や基板の立ち上げから量産テストラインまで、幅広い範囲を対象としています。タイムクリティカルなデバッグと実稼働グレードの信頼性のバランスをとるエンジニアにとって、コンパクトながらも大きな影響を与えるテストベンチへの追加となります。